חיפוש
סגור את תיבת החיפוש

TopMap Micro.View® Plus

שתפו

מיקרוסקופ טיב פני שטח  למשטחים גדולים

TopMap Micro.View+ is the next generation optical surface profiler. Designed for modularity, this comprehensive workstation allows for customized and application-specific configurations. The Micro.View + delivers the most detailed analysis of surface roughness, texture and microstructure topography. Combine 3D data with color information for amazing visualizations and extended analysis like detailed documentation of defects. The high-resolution 5 MP camera delivers incredibly detailed 3D data visualization of engineered surfaces.

Measurement principle – Coherence Scanning Interferometry (CSI) / White-Light Interferometry

Camera pixels: 1.9 MP (5 MP option)

Optical resolution, lateral – down to 300 nm

Digital Z resolution – 0.01 nm

Min. measurable roughness (Sa) – 0.05 nm

High-end white-light interferometer with nm resolution
100 mm z measurement range with CST Continuous Scanning Technology
With Focus Finder and Focus Tracker ready for automation
Motorized X, Y, Z, tip/tilt and turret save repositioning
Color information mode for extended analysis and documentation of defects
Modular, application-specific configurations
לתאום פגישת הכרות
התקשרו ל-09-9574111
השאירו פרטים כאן
אולי יעניין אותך גם

מיקרוסקופ טיב פני שטח שולחני למשטחים קטנים

TopMap Micro.View is an easy to...

מיקרוסקופ טיב פני שטח  למשטחים גדולים

TopMap Micro.View+ is the next generation optical...

מיקרוסקופ טיב פני שטח לקבלת אנליזה עובר – נכשל

The TopMap...

webthenet עיצוב ובניית אתרים
תודה רבה… כבר חוזרים אליך!